Sciences des Matières

 
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Spectroscopie de fluorescence X qualitative d'alliages

Principe de l'expérience

La composition de différents alliages est analysée à  l'aide des rayons-X polychromatiques. L'énergie des raies de fluorescence caractéristiques est déterminée à  l'aide d'un ...

 
Détails

Numéro d´article: P2544601

Spectroscopie de fluorescence X qualitative d'échantillons poudreux

Principle

Various powder samples are subjected to polychromatic X-rays. The energy of the resulting fluorescence radiation is analysed with the aid of a semiconductor detector and a multichannel analyser. The energy of the corresponding characteristic X-ray fluorescence lines is ...

 
Détails

Numéro d´article: P2544701

Spectroscopie de fluorescence X qualitative d'échantillons liquides

Principle

Various saturated solutions are subjected to polychromatic X-rays. The energy of the resulting fluorescence radiation is analysed with the aid of a semiconductor  detector and a multi-channel analyser. The energy of the corresponding characteristic X-ray fluorescence lines ...

 
Détails

Numéro d´article: P2544801

Spectroscopie de fluorescence X qualitative de minérais

Principle

Various ore samples are subjected to polychromatic X-rays. The energy of the resulting fluorescence radiation is analysed with the aid of a semiconductor detector and a multichannel analyser. The energy of the corresponding characteristic X-ray fluorescence lines is ...

 
Détails

Numéro d´article: P2544901

Analyse quantitative par fluorescence X des alliages

Principle

Various alloyed materials are subjected to polychromatic X-rays. The energy of the resulting fluorescence radiation is analysed with the aid of a semiconductor detector and a multichannel analyser. The energy of the corresponding characteristic X-ray fluorescence lines is ...

 
Détails

Numéro d´article: P2545001

Analyse quantitative d'échantillons de liquides par fluorescence

Principle

Various solutions, with known element concentrations, are subjected to polychromatic X-rays. The energy and intensity of the resulting fluorescence radiation of the dissolved elements are analysed with the aid of a semiconductor detector and a multichannel analyser. In order to ...

 
Détails

Numéro d´article: P2545101

Spectroscopie de fluorescence - détermination d'épaisseur de couche

Principle

X-ray fluorescence analysis (XRF) is suitable for the non-contact and non-destructive thickness measurement of thin layers as well as for determining their chemical composition. For this type of measurement, the X-ray source and detector are located on the same side of the ...

 
Détails

Numéro d´article: P2545201

Effet Compton ? mesure de l'énergie dispersive

Principle

Photons of the molybdenum Kα X-ray line are scattered at the quasi-free electrons of an acrylic glass cuboid. The energy of the scattered photons is determined in an angle-dependent manner with the aid of a swivelling semiconductor detector and a ...

 
Détails

Numéro d´article: P2546001

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X-ray expert unit

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