Microscope à force atomique compact - AFM

Numéro d´article: 09700-99



Fonction et Applications

Microscope à force atomique compacte et simple à utiliser, pour la visualisation de structures à l'échelle des micro- et nanomètres. Spécialement conçu pour l'enseignement lors des cours pratiques en physique, chimie, sciences de la vie et sciences des matériaux. Convient également pour déterminer les propriétés d'un matériau (p.e. rigidité, dureté, aimantation, charge, contraste de phase et des matériau), ainsi que pour manipulations (p.e. lithographie) et plus.

Avantages

  • Unité prête à l'emploi avec plaque anti-vibration et unité de contrôle intégrées
  • Ensemble complet avec échantillons, cantilever, outils et consommables
  • Scanner AFM à pointe: linéaire, électro-magnétique, basse tension
  • Changement et utilisation simple des cantilever: Mécanisme basculant avec coupure automatique du laser, pas d'alignement nécessaire, butée mécanique préservant la durée de vie des cantilevers
  • Caméra numérique à vue surplombante pour un positionnement aisé et lentilles latérales pour une approche rapide et simple
  • Portable et compact: Transportable, facile à installer et avec un faible encombrement
  • Dispositif unique pour des mesures plus stables
  • Facile d'emploi: Idéal pour l'enseignement des nanotechnologies, prépare et sensibilise les étudiants à leur travail sur des unités de recherche perfectionnées
  • Support d'échantillon et tête de balayage accessibles: Echange rapide des pointes et échantillons
  • Fonctionnement sous basse tension: Sécurité pour tous les utilisateurs
  • Version de base avec 2 options de mise à niveau offrant des modes d'utilisation étendus (niveau recherche)

Caractéristques Techniques

  • Tête de balayage avec contrôleur intégré, monté sur une base anti-vibrations.
  • Dimensions 21 x 21 x 18 cm.
  • Interface USB 2.0.
  • Convertisseur AD 16 bit pour tous les trois dimensions, pour jusqu'à 7 canaux de mesure.
  • Vitesse de balayage max. : 60 ms/ligne
  • Jusqu'à 2048 x 2048 points
  • Type de balayage (à pointe): linéaire électromagnétique à basse tension
  • Plage de balayage max. : 70 µm (10% tolérance de fabrication)
  • Plage Z max. : 14 µm
  • Résolution XY: 1,1 nm
  • Résolution Z: 1,1 nm
  • Bruit de fond de mesure Z (mode statique RMS): 0,6 nm
  • Bruit de fond de mesure Z (mode dynamique RMS): 0,5 nm
  • Approche automatique verticale, 4,5 mm
  • Taille d'échantillon max. 13 mm de diamètre.
  • Table croisée XY micrométrique: course dans chaque direction min. +/- 5 mm
  • Alignement cantilever: ajustement automatique
  • Cantilevers: avec rainures d'alignement de différents fournisseurs
  • Système de caméra pour vue surplombante: USB couleur, 3.1 M pixels, résolution moins de 2 µm, zoom numérique: 1x, 2x, 4x
  • Champ de vision en surplomb/latéral: environ 3.2 x 2.7 mm
  • Eclairage échantillon: LED blanche
  • Connexion électrique à la pointe
  • Modes de fonctionnement: Statique, Dynamique, Spectroscopie Force Distance, Spectroscopie Amplitude Distance
  • Autres modes (MFM, EFM, contraste de phase, lithographie et spectroscopie avancée) disponible via options d'extension matériaux / spectroscopie et manipulation
  • Option interface utilisateur (scripting) disponible (option d'extension)
  • Jeu de cantilever (3 x statique, 3x dynamique)
  • Jeu de 6 échantillons
  • Jeu d'outils pour le montage des cantilever et échantillons
  • Alimentation (100-240V, 50/60Hz)
  • Cable USB: longueur 3m
  • Valise en aluminium (44cm x 32cm x 14cm)
  • Logiciel pour mesure, contrôle, analyse et visualisation (une, deux et trois dimensions)
  • Manuel comprenant mode opératoire succinct pour expériences de base
  • Guide d'installation rapide
  • Dimensions 21 x 21 x 18 cm
  • Masse (valise inclue) 10 kg

Accessoires

  • Ordinateur sous Windows 2000/XP/Vista/7/8, port USB, 256 MB RAM, carte graphique 1024x758, couleur 16-bit ou plus récent
  • Option d'extension analyse des matériaux (09701-00): Logiciel (Modulation de force, Contraste de phase, AFM conductif); jeu de 3 échantillons et 8 cantilever
  • Option d'extension spectroscopie et manipulation (09702-00): Logiciel (Spectroscopie avancée, Lithographie, Manipulation et interface utilisateur (LabView, Visual Basic, etc)); jeu de 2 échantillons et 8 cantilever
  • Plateforme active d'isolation contre les vibrations (09760-00)
  • Caméra latérale sur support magnétique (09750-00)
  • Jeu de 10 cantilever pour mode contact (09710-00), mode dynamique (09711-00), MFM (09712-00) et EFM (09713-00)

Cette documentation contient les expériences suivantes

Title Produit
Méthode de base de l'imagerie de micro et nanostructuresavec le microscope à force atomique (AFM) P2538000

Retour à la liste correspondante

Numéro d´article: 09700-99

Ces articles pourraient être également intéressants... (9 item)

Conseiller cette page  ∇

Contact PHYWE

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10
D-37079 Göttingen

T. +49 (0) 551 604-0
F. +49 (0) 551 604-107
Hotline Service technique
+49 (0) 551 604-196
service@phywe.com

 

Download