Investigation de structures cristallines par rayons X / méthode de Laue avec détecteur digital (XRIS)

Numéro d´article: P2541602

Principle

Laue diagrams are produced when monocrystals are irradiated with polychromatic X-rays. This method is primarily used for the determination of crystal symmetries and the orientation of crystals. When a LiF monocrystal is irradiated with polychromatic X-rays, a characteristic diffraction pattern results. This pattern is photographed with the digital X-ray sensor XRIS.

Tasks

  1. The Laue diffraction of an LiF monocrystal is to be recorded with the aid of the digital X-ray sensor.
  2. The Miller indices of the corresponding crystal surfaces are to be assigned to the Laue reflections.


What you can learn about

  • Crystal lattices
  • Crystal systems
  • Crystal classes
  • Bravais lattice
  • Reciprocal lattice
  • Miller indices
  • Structure amplitude
  • Atomic form factor
  • The Bragg equation

Software included. Computer not provided.


Liste du matériel (extrait) Articles Montant
XRCT 4.0 X-ray Kit d'extension tomodensitométrie 09180-88 1
XR 4.0 Appareil à rayons X, 35 kV 09057-99 1
Module tiroir avec tube à rayons X, anticathode tungstène 09057-81 1
Monocristal de LiF sur support 09056-05 1
Banc optique pour appareil à rayons-X XR 4.0 09057-18 1
Support de cristal pour enregistrement des figures de Laue 09058-11 1
Tube diaphragme pour appareil à rayons-X, d = 1 mm 09057-01 1
Pied à coulisse à vernier, acier inox 0-160 mm, 1/20 03010-00 1

Littérature pour cet article comme suit:

Title Produit Langue
TESS expert manual XRCT 4.0 X-ray Computed Tomography and Digital Imaging in Medicine, 01205-02 ENG
XRCT 4.0 X-ray Computertomographie-Erweiterungsset 09180-88

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Numéro d´article: P2541602

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